X荧光光谱仪
“X荧光光谱仪”参数说明
| 类别： | X射线测厚仪 | 品牌： | 优特 |
| 显示方式： | 全中文液晶 |
“X荧光光谱仪”详细介绍
一、应用领域
UTX620是一款经济、实用、操作简便的X射线荧光光谱仪，适用于：
五金、接插件、电气连接器电镀，PCB电镀，塑料、ABS、镁铝合金电镀；含量普通的合金材料分析。镀液主盐分析。
检测电镀Au、Ag、Sn、Ni、Cu、Zn、Cr、NiP、SnPb合金、SnCu合金、ZnNi合金、AuPdNi合金等镀层厚度。
电镀液中Au、Ag、Cu、Ni、Cr、Zn、Sn的主盐的浓度。
二、产品特点
1、无损分析；
2、从K到U的快速元素分析、金属镀层厚度检测；
3、测镀液中最低含量50g/L的主盐，测定范围Ti22-U92；
4、可全天候工作，坚固耐用，非实验室人员亦可操作；
5、测量时间短，每个测量只需10-60秒。
三、技术指标
产品执行标准 ?DIN50987，ISO3497，ASTMB568
测试原理 ?EDXRF能量色散X荧光光谱法
测量样品 ?固体、液体、粉末
功能 ?单镀层和多镀层测厚与元素分析
?最多可分析6层（不包括基层）
?镀液主盐成份分析
高压发生器
输入电压 ?24VDC±10%
输出电压 ?0-50kV
输出电流 ?0-2.0mA
输出精度 ?0.01%
X射线管
X射线管靶材 ?W靶材
X射线管窗口 ?Be窗
电气参数 ?50W，4-50kV，uA
冷却方式 ?油冷却
X射线照射方向 ?从上往下↓
照射范围 ?Φ0.2mm
使用寿命 ?h
探测器
探测器类型 ?正比计数探测器
元素分析范围 ?K19-U92
分辨率 ?FWHM<760eV
探测窗口 ?铍窗，窗口面积：400mm2
镀层测厚与元素分析指标
元素分析范围 ?K19-U92
测厚范围 ?0.01—35um
第一层精密度/准确度 ?相对标准差5%以下（厚度大于0.5um时）
相对标准差3%以下（厚度大于8um时）
第二层精密度/准确度 ?相对标准差10%以下（厚度大于0.5um时）
测量时间 ?10-60s
谱处理系统
处理器类型 ?全数字化32-bit DSP
谱通道数 ?256，512，1024，2048可供选择
计数率 ?大于cps
能量范围 ?1400eVeV
死时间 ?<3%
光路系统和样品观测
准直器系统 ?单一准直器Φ0.2mm
对焦系统 ?镭射激光对焦
样品观察系统 ?300万像素高清CCD摄像头，20倍光学变焦
样品室
样品室内部空间 ?（宽×高×深）：455×185×430mm
样品台尺寸 ?（宽×深）：272×308mm
样品台承载重量 ?≤5kg
试验样品最大尺寸 ?宽×高×深：440×170×410mm
样品台控制方式 ?简易手动样品台
工作台移动技术数据 ?X＝200±5、Y＝200±5、Z＝160±5mm
工作台移动精度 ?0.02mm
软件 ?镀层测厚软件、元素分析软件
软件类型 ?FP基本参数法软件
软件语言 ?简体中文、繁体中文、英文、其它
谱显示 ?自动峰定性，KLM标记，谱重迭比较
谱处理 ?总强度，净强度，背景强度；全面积，净面积，多元素拟合，高斯拟合
资料分析 ?基本参数，基本谱图，无标样测试，峰位修正，底材修正
重量和尺寸
设备主体尺寸 ?宽×高×深：W 503×H 635×D 790mm
主体重量 ?约70kg
使用环境
工作环境 ?温度15-25℃，湿度40-70%RH
电源系统 ?单相220V±10%，工作电压在允许范围内
其它 ?1.不要靠近产生强磁场，电场，高频等装置；2.减少振动3.粉尘少，湿度低，无腐蚀性气体；4.日光不能直射；5.作为地震的对策，要考虑装置的固定。
UTX620是一款经济、实用、操作简便的X射线荧光光谱仪，适用于：
五金、接插件、电气连接器电镀，PCB电镀，塑料、ABS、镁铝合金电镀；含量普通的合金材料分析。镀液主盐分析。
检测电镀Au、Ag、Sn、Ni、Cu、Zn、Cr、NiP、SnPb合金、SnCu合金、ZnNi合金、AuPdNi合金等镀层厚度。
电镀液中Au、Ag、Cu、Ni、Cr、Zn、Sn的主盐的浓度。
二、产品特点
1、无损分析；
2、从K到U的快速元素分析、金属镀层厚度检测；
3、测镀液中最低含量50g/L的主盐，测定范围Ti22-U92；
4、可全天候工作，坚固耐用，非实验室人员亦可操作；
5、测量时间短，每个测量只需10-60秒。
三、技术指标
产品执行标准 ?DIN50987，ISO3497，ASTMB568
测试原理 ?EDXRF能量色散X荧光光谱法
测量样品 ?固体、液体、粉末
功能 ?单镀层和多镀层测厚与元素分析
?最多可分析6层（不包括基层）
?镀液主盐成份分析
高压发生器
输入电压 ?24VDC±10%
输出电压 ?0-50kV
输出电流 ?0-2.0mA
输出精度 ?0.01%
X射线管
X射线管靶材 ?W靶材
X射线管窗口 ?Be窗
电气参数 ?50W，4-50kV，uA
冷却方式 ?油冷却
X射线照射方向 ?从上往下↓
照射范围 ?Φ0.2mm
使用寿命 ?h
探测器
探测器类型 ?正比计数探测器
元素分析范围 ?K19-U92
分辨率 ?FWHM<760eV
探测窗口 ?铍窗，窗口面积：400mm2
镀层测厚与元素分析指标
元素分析范围 ?K19-U92
测厚范围 ?0.01—35um
第一层精密度/准确度 ?相对标准差5%以下（厚度大于0.5um时）
相对标准差3%以下（厚度大于8um时）
第二层精密度/准确度 ?相对标准差10%以下（厚度大于0.5um时）
测量时间 ?10-60s
谱处理系统
处理器类型 ?全数字化32-bit DSP
谱通道数 ?256，512，1024，2048可供选择
计数率 ?大于cps
能量范围 ?1400eVeV
死时间 ?<3%
光路系统和样品观测
准直器系统 ?单一准直器Φ0.2mm
对焦系统 ?镭射激光对焦
样品观察系统 ?300万像素高清CCD摄像头，20倍光学变焦
样品室
样品室内部空间 ?（宽×高×深）：455×185×430mm
样品台尺寸 ?（宽×深）：272×308mm
样品台承载重量 ?≤5kg
试验样品最大尺寸 ?宽×高×深：440×170×410mm
样品台控制方式 ?简易手动样品台
工作台移动技术数据 ?X＝200±5、Y＝200±5、Z＝160±5mm
工作台移动精度 ?0.02mm
软件 ?镀层测厚软件、元素分析软件
软件类型 ?FP基本参数法软件
软件语言 ?简体中文、繁体中文、英文、其它
谱显示 ?自动峰定性，KLM标记，谱重迭比较
谱处理 ?总强度，净强度，背景强度；全面积，净面积，多元素拟合，高斯拟合
资料分析 ?基本参数，基本谱图，无标样测试，峰位修正，底材修正
重量和尺寸
设备主体尺寸 ?宽×高×深：W 503×H 635×D 790mm
主体重量 ?约70kg
使用环境
工作环境 ?温度15-25℃，湿度40-70%RH
电源系统 ?单相220V±10%，工作电压在允许范围内
其它 ?1.不要靠近产生强磁场，电场，高频等装置；2.减少振动3.粉尘少，湿度低，无腐蚀性气体；4.日光不能直射；5.作为地震的对策，要考虑装置的固定。
编辑：烟台优特化工有限公司 时间：2018/05/11
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